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　电路设计的主要考虑因素之一是预期寿命，它取决于产品本身以及其中所包含的单个元件的寿命。在考虑元件时，有些元件可能会完全失效或随着时间的推移性能下降。对于光耦合器而言，CTR性能会随着时间的推移而降低，具体情况取决于工作条件。

　　光耦的寿命可能会超过几十年，因此需要使用更严苛的条件来加速压力测试。

　　对于可靠性测试而言，缩短压力测试的时间并预测正常使用条件下的zui终寿命是非常有意义的。在更高的温度和电流的条件下测试光耦时，器件老化的过程比在正常工作条件下要快得多。

　　CTR的老化速度取决于工作时的正向电流IF和工作时的环境温度TA。需要注意的是，可以通过降低LED的工作温度并降低驱动正向电流来减缓CTR老化。